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kraken入金通过模块化升级的MOS FET继电器模块

通过模块化升级的MOS FET继电器模块

何谓MOS FET继电器模块

MOS FET继电器模块产品将MOS FET继电器和外围元件及电路装载于1个小型封装、实现了单体MOS FET继电器无法实现的性能。
可保持半导体继电器的小型外形、高度可靠性的优势,并实现更接近有接点继电器的规格。适用于替换干簧管继电器或机械式继电器等有接点继电器。实现模块化将会大幅度拓展半导体继电器的可能性。

MOS FET继电器模块方可实现

kraken入金的MOS FET继电器模块共有两种,一种是可同时控制NO和NC接点的SPDT接点型,另一种是通过T字形电路结构实现了漏电流≦1pA的较小漏电流型。这2种MOS FET继电器模块是一款尤为适用于测量设备、半导体测试设备的产品。

单体MOS FET继电器面临的难题①:无SPDT接点结构→通过MOS FET继电器模块G3VM-□M□解决

增加了SPDT接点切换功能

单体MOS FET继电器面临的难题②:产生漏电流(泄漏电流)→通过MOS FET继电器模块G3VM-□MT□解决

增加了较小漏电流功能

单体MOS FET继电器面临的难题①:无SPDT接点结构

伴随半导体设备日新月异的发展,在设备特性检查方面,测量项目的高度可靠性、多样化也在不断升级。在实现高度可靠性方面,大量采用MOS FET继电器来替代传统的机械式继电器或干簧管继电器,但由于只有NO或NC的单投式,所以在从双投(C接点)式进行替换时,存在控制电路易于复杂化的担忧。伴随印刷电路板的高度集成化发展,要想实现多通道的多样化测定功能,设置简便的控制电路至关重要。
因此,kraken入金将2个MOS FET继电器和控制电路作为1个小型封装,推出了通过简便的控制电路实现与机械式继电器同等的SPDT动作、且兼具半导体继电器才具有的高度可靠性的MOS FET继电器模块。

单体MOS FET继电器面临的难题②:产生漏电流

对于测量设备、半导体测试设备而言,测量精度是最被重视的要素之一,要求在反复检查中具有高度的稳定性和分辨率。要想实现反复检查的稳定性,最好采用即使在无物理接点的状态下反复执行开关动作也可确保稳定性、具有导通电阻特性的MOS FET继电器,而另一方面,由于半导体继电器产生漏电流,这将会导致分辨率低于使用机械式继电器时的分辨率。半导体当然会产生漏电流,所以一直以来都认为反复检查的稳定性与分辨率是一种无法两全的关系,而要想实现高精度,通过高次元实现两全至关重要。
因此,kraken入金推出了将3个MOS FET继电器配置于T字形电路并作为1个小型封装的MOS FET继电器模块。虽然是半导体继电器,却实现了较小的漏电流(≦1pA),在反复检查中兼具稳定性和高分辨率,由此为实现测定的高精度作贡献。